Non-contact single-point optical tester
非接觸式，無需接觸樣品，非接觸測量測量距離:0~10mm
高精度d/8的緊湊結構具SCI/SCE量測，可與傳統桌上型分光光度計的測量結果有高度一致性
波長範圍:VIS 400~700nm ，NIR 400~1000nm
高精度d/8的緊湊結構具SCI/SCE量測，可與傳統桌上型分光光度計的測量結果有高度一致性
波長範圍:VIS 400~700nm ，NIR 400~1000nm
非接觸式，無需接觸樣品，非接觸測量測量距離:0~10mm
高精度d/8的緊湊結構具SCI/SCE量測，可與傳統桌上型分光光度計的測量結果有高度一致性
波長範圍:VIS 400~700nm ，NIR 400~1000nm
小測量孔徑，可實現Φ2mm小尺寸測量
测量再現性:测量白板100次，光谱反射比标准偏差≤0.1%，ΔE*ab标准偏差 ＜0.05
快速量測每次測量≤500ms，每天可以實現≥17萬次測量，實現高速大量的產線測量需求
測量頭和主機分離設計方便測量頭集成至任何產線測量位置
內置LED光源可實現≥1000萬次測量
色彩空間輸出:光譜反射比、CIELAB、CIEXYZ、色差等
